De yield van 65nm-wafers, de verhouding tussen goede en slechte chips, zou volgens Intel al op hetzelfde niveau liggen als de yield voor 90nm-wafers. Een opmerkelijke prestatie, daar de eerste 65nm-productielijnen pas 20 maanden geleden gekocht werden. Ter vergelijking, om dezelfde yield met het 180nm-proces te halen, had Intel 38 maanden nodig, voor 130nm 30 maanden en voor 90nm 26 maanden. Intel is er dus in geslaagd om de tijd om een nieuw productieproces klaar te maken voor massaproductie flink in te korten.
Een goede yield is onder andere afhankelijk van de kwaliteit en het ontwerp van de transistors op de chip. Fouten in het ontwerp kunnen ervoor zorgen dat de yield lager is dan verwacht. Het is dan ook belangrijk om deze fouten zo vroeg mogelijk op te sporen. De kwaliteit waarmee de transistor is gemaakt, wordt bepaald door externe factoren als luchtvochtigheid en het aantal stofdeeltjes dat in de lucht zweeft. Intel heeft dan ook een complete afdeling die zich met beide bezighoudt.